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比表面積及孔徑分析儀

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孔徑分析儀及比表面積儀

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經(jīng)過(guò)改進(jìn)升級后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過(guò)國家標準物質(zhì)研究中心的計量檢測，證書(shū)編號為：計測字第 2002-（17）-017。
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BSD-PMC腐蝕性氣體吸附分析及比表面積及孔徑分析儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：腐蝕性氣體吸附分析及比表面積及孔徑分析儀屬于研究級儀器，可測試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數據，尤其可對微孔材料的孔徑分布給出更準確測試結果，可升級為雙站微孔測試功能，適用于對研發(fā)、實(shí)驗要求*的科研單位和企業(yè)用戶(hù)。集裝閥門(mén)和管路設計，模塊化組裝，保證儀器高真空度和高密封性，是高性能和高穩定性的典型產(chǎn)品。
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BSD-PS硼粉比表面及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-06-26

型號：BSD-PS

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硼粉比表面及孔徑分析儀，具有2個(gè)樣品預處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現性好。重復性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內，遠銷(xiāo)海外，獲得多項國內技術(shù)
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BSD-660比表面及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-06-26

型號：BSD-660

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比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數據計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660高精度比表面及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-06-26

型號：BSD-660

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高精度比表面及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數據計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660PS系列比表面積及孔徑分析儀

更新時(shí)間：2024-06-26

型號：BSD-660

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PS系列比表面積及孔徑分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數據計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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更新時(shí)間：2024-06-26

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全自動(dòng)比表面及中孔微孔分布分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線(xiàn)；再通過(guò)吸附脫附等溫線(xiàn)的數據計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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經(jīng)過(guò)改進(jìn)升級后3H-2000型系列儀器在2002年12月16日通過(guò)國家標準物質(zhì)研究中心的計量檢測，證書(shū)編號為：計測字第 2002-（17）-017。2004年推出BET多點(diǎn)法教學(xué)用3H-2000II型;2005年推出3H-2000III型;2008年推出的全自動(dòng)智能運行的3H-2000A型,以及BET原理的BET單點(diǎn)法的3H-2000BET-S型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-M型,BET多點(diǎn)法的3H-2000BET-A型;3H-2000PS系列比表面及孔徑分析儀。
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